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产品介绍 |
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产品名称: |
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产品简介: |
测试探针 , 是一种通过电铸工艺(电化学沉积技术)制造的精密测试探针,主要用于半导体、PCB(印制电路板)、电子元器件等领域的电气性能测试。其核心制造原理是利用电解液中的金属离子在模具表面逐层沉积,形成高精度、复杂结构的探针头与针身。电铸探针通常具备微米级尺寸精度和优异的机械性能,能够实现稳定接触被测点并传输电信号,适用于高频、高密度测试场景(如晶圆测试、BGA测试等)。与传统机加工探针相比,电铸技术可实现更复杂的几何形状(如尖端微细、多层结构),并兼顾耐磨性、导电性和弹性,是现代高端测试治具的关键组件。 |
产品特点及用途: |
具有高精度、高耐用性和表面质量优异等优点。广泛应用于半导体、 电路板(PCB)以及其他电子元件的测试中。 |
产品售后: |
二次元、影像仪精密检测,24小时服务热线: 0513-81601666 。我们是高端精密电铸的工厂,对所有我司的产品售后负责。不论是服务态度,还是产品质量,前置的关于产品设计沟通,业务员的服务质量等,均可以直接沟通。快速的反应机制,针对客户的投诉 , 24 小时内回复。48小时内提出整改对策,三天内完成良品发货。 |
我们的优势 |
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1、截止 2025年我们在精密电铸领域深耕10余 年, 2015年公司斥资在南通新建卓力达工业园,借鉴深圳和昆山分公司的成功经验,致力于各类 电铸测试探针 加工产品的技术创新、研发、生产和销售。 |
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2、卓力达的电铸测试探针采用的电铸工艺与数控模具技术,可实现微米级(±1μm)的尺寸精度和极高的形状一致性,确保每根探针的尖端几何形状、弹性和导电性能高度统一。这种一致性对于高密度PCB或半导体测试至关重要,能大大减少测试误判率,提升测试良率。结合卓力达的全程自动化生产线和严格的质量管控体系(如CCD视觉检测、实时电性能监控),我们能够为客户提供批量稳定、零缺陷的探针产品,尤其适用于晶圆测试、5G通信模块等对精度要求极严的场景。 |
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3、公司引进进口曝光机和精密电铸设备,确保产品的质量和生产效率。同时也配备了高精度的检测仪器,确保每一件产品都符合标准,也拥有一支由行业精英和科研人员组成的研发团队,专注于电铸技术的创新和应用开发,不断探索新材料、新工艺,以提升产品的精度和性能。 |
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4、卓力达电铸探针通过优化电铸材料配方(如采用钴镍合金、铑金镀层等高性能材料)和多层结构设计,使探针表面硬度可达HV800以上,耐磨性比传统探针提升3倍以上。同时,我们独有的表面处理技术(如纳米级抛光、抗氧化镀层)进一步降低了接触电阻的波动和磨损碎屑的产生,延长了探针使用寿命(可达100万次以上测试循环)。这一优势直接帮助客户降低测试治具的维护成本和换针频率,提高生产线连续运作效率,尤其适合汽车电子、军工等高可靠性测试领域。 |
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5、卓力达集团拥有深圳卓力达、昆山卓力达和南通卓力达三大生产基地,综合面积40000余平方米。其中南通已建成产业园,涉及电铸、蚀刻、电镀电泳、阳极氧化、激光焊接和真空扩散焊等多个领域。其中南通卓力达二号楼二楼为电铸车间,一号楼一楼为 阳极氧化车间;二楼和三楼为蚀刻车间,拥有各种常规、进口以及定制化非标精密蚀刻线20余条,能满足产能以及各种产品的精度要求;四楼为真空扩散焊车间。 |
高精度:
电铸工艺以离子级逐层沉积替代传统切削,将金属离子准确“编织”成微米级针头:镍钴合金在脉冲电场中结晶致密,针尖自然收束至仅几微米的圆润弧度,表面光洁如镜,无毛刺、无应力;通过调控电流密度与波形,可在一批次内复制上千枚几乎零偏差的孪生针尖。其柔性悬臂设计在接触芯片引脚时轻触即合,既避免划伤镀金层,又保证信号稳定传输,使半导体探针卡、MEMS传感器及生物微电极实现万次以上可靠压接,成为连接微观世界与宏观测试系统的隐形桥梁。
良好的导电性: 测试探针
选用高弹性、高导电的铍铜合金作为核心材料,并通过精密的热处理工艺,使其在拥有优异柔韧性和抗疲劳强度的同时,实现了极低的体电阻。探针结构采用一体成型电铸技术,无任何焊接点,从根本上避免了因焊接引入的额外阻抗。表面镀以硬金层,有效防止氧化,确保接触点电阻始终维持在极低且稳定的水平。这种导电性保障了电信号在微欧级通路中高效、无损地传输,即使在高频、长期的测试中也能保持阻抗恒定,有效隔绝外部干扰,确保测试数据的绝对准确与可信赖。
良好的表面质量: 电铸以离子级沉积在原子层面堆叠金属,探针表面因此像镜面般光滑,微观起伏被抚平至纳米尺度。低粗糙度首先带来低而稳定的接触电阻,信号通路更纯净;其次,它大大减少针尖与芯片焊盘之间的机械摩擦和分子粘附,避免划伤脆弱的铝铜层或剥落金镀层。测试过程中,针尖轻触即可迅速形成均匀导电斑,回弹时干净利落地脱离,不残留金属屑或胶渍,使成千上万次压接后依旧保持可靠电气接触,良率和一致性同步提升。
可定制性强: 电铸测试探针 的可定制性极强,可根据被测件的形状、尺寸、材质及测试环境差异,量身打造探针的几何参数:长度可在0.5 mm至150 mm间任意调节,直径覆盖0.05 mm至2 mm,针头可选超精密圆头、微切削尖头、多棱锥、球冠、锯齿或弹性花瓣结构,并支持镀金、镀铑、镀铂等多层功能镀层;弹簧力、行程、温度范围及屏蔽方式亦可按高频、高压、高低温、真空或腐蚀性场景深度定制,实现从晶圆、封装到整机全链路准确测试。